Focused electron beam induced etching of titanium with XeF2

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Revista:
Nanotechnology

ISSN: 0957-4484,  1361-6528

Año de publicación: 2011

Volumen: 22

Número: 26

Tipo: Artículo

DOI: 10.1088/0957-4484/22/26/265304 GOOGLE SCHOLAR

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