Superresolved spatially multiplexed interferometric microscopy
- Picazo-Bueno, J.Á.
- Zalevsky, Z.
- García, J.
- Micó, V.
ISSN: 1539-4794, 0146-9592
Año de publicación: 2017
Volumen: 42
Número: 5
Páginas: 927-930
Tipo: Artículo
Revista:
Optics Letters