Superresolved spatially multiplexed interferometric microscopy
- Picazo-Bueno, J.Á.
- Zalevsky, Z.
- García, J.
- Micó, V.
ISSN: 1539-4794, 0146-9592
Any de publicació: 2017
Volum: 42
Número: 5
Pàgines: 927-930
Tipus: Article
Revista:
Optics Letters