Superresolved spatially multiplexed interferometric microscopy
- Picazo-Bueno, J.Á.
- Zalevsky, Z.
- García, J.
- Micó, V.
ISSN: 1539-4794, 0146-9592
Ano de publicación: 2017
Volume: 42
Número: 5
Páxinas: 927-930
Tipo: Artigo
Revista:
Optics Letters