Superresolved spatially multiplexed interferometric microscopy
- Picazo-Bueno, J.Á.
- Zalevsky, Z.
- García, J.
- Micó, V.
ISSN: 1539-4794, 0146-9592
Datum der Publikation: 2017
Ausgabe: 42
Nummer: 5
Seiten: 927-930
Art: Artikel
Zeitschrift:
Optics Letters