Superresolved spatially multiplexed interferometric microscopy
- Picazo-Bueno, J.Á.
- Zalevsky, Z.
- García, J.
- Micó, V.
ISSN: 1539-4794, 0146-9592
Argitalpen urtea: 2017
Alea: 42
Zenbakia: 5
Orrialdeak: 927-930
Mota: Artikulua
Aldizkaria:
Optics Letters