New power MOSFET selection method to avoid failures
- Jordán, J.
- Esteve, V.
- García-Gil, R.
- Sanchis, E.
- Maset, E.
- Dede, E.
Actas:
Conference Proceedings - IEEE Applied Power Electronics Conference and Exposition - APEC
Ano de publicación: 2004
Volume: 2
Páxinas: 1257-1261
Tipo: Achega congreso