New power MOSFET selection method to avoid failures

  1. Jordán, J.
  2. Esteve, V.
  3. García-Gil, R.
  4. Sanchis, E.
  5. Maset, E.
  6. Dede, E.
Actes:
Conference Proceedings - IEEE Applied Power Electronics Conference and Exposition - APEC

Any de publicació: 2004

Volum: 2

Pàgines: 1257-1261

Tipus: Aportació congrés

GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus