New power MOSFET selection method to avoid failures

  1. Jordán, J.
  2. Esteve, V.
  3. García-Gil, R.
  4. Sanchis, E.
  5. Maset, E.
  6. Dede, E.
Actes de conférence:
Conference Proceedings - IEEE Applied Power Electronics Conference and Exposition - APEC

Année de publication: 2004

Volumen: 2

Pages: 1257-1261

Type: Communication dans un congrès

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