New power MOSFET selection method to avoid failures
- Jordán, J.
- Esteve, V.
- García-Gil, R.
- Sanchis, E.
- Maset, E.
- Dede, E.
Konferenzberichte:
Conference Proceedings - IEEE Applied Power Electronics Conference and Exposition - APEC
Datum der Publikation: 2004
Ausgabe: 2
Seiten: 1257-1261
Art: Konferenz-Beitrag