SiC MOSFET vs SiC/Si Cascode short circuit robustness benchmark

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Revista:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Año de publicación: 2019

Volumen: 100-101

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.MICROREL.2019.113429 GOOGLE SCHOLAR
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