SiC MOSFET vs SiC/Si Cascode short circuit robustness benchmark

  1. Marroqui, D.
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Zeitschrift:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Datum der Publikation: 2019

Ausgabe: 100-101

Art: Artikel

DOI: 10.1016/J.MICROREL.2019.113429 GOOGLE SCHOLAR
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