Multi-pulse characterization of trapping/detrapping mechanisms in AlGaN/GaN high electromobility transistors

  1. Martínez, P.J.
  2. Maset, E.
  3. Gilabert, D.
  4. Sanchis-Kilders, E.
Zeitschrift:
Semiconductor Science and Technology

ISSN: 1361-6641,  0268-1242

Datum der Publikation: 2019

Ausgabe: 34

Nummer: 10

Art: Artikel

DOI: 10.1088/1361-6641/AB3FE8 GOOGLE SCHOLAR

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