The on-board calibration system of the X-ray Imaging Polarimetry Explorer (XIPE)

  1. Zane, S.
  2. Winter, B.
  3. Theobalds, C.
  4. Theodorou, T.
  5. Pinchera, M.
  6. Muleri, F.
  7. Spada, F.
  8. Sgro, C.
  9. Zanetti, D.
  10. Feng, H.
  11. Del Monte, E.
  12. Rubini, A.
  13. Soffitta, P.
  14. Bellazzini, R.
  15. Bozzo, E.
  16. Burwitz, V.
  17. Castro Tirado, A.J.
  18. Costa, E.
  19. Gburek, S.
  20. Goosmann, R.
  21. Karas, V.
  22. Matt, G.
  23. Nandra, K.
  24. Pearce, M.
  25. Poutanen, J.
  26. Reglero, V.
  27. Sabau, M.D.
  28. Santangelo, A.
  29. Tagliaferri, G.
  30. Tenzer, C.
  31. Vink, J.
  32. Weisskopf, M.
  33. Erakutsi egile guztiak +
Aktak:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ISSN: 1996-756X 0277-786X

ISBN: 9781510601895

Argitalpen urtea: 2016

Alea: 9905

Mota: Biltzar ekarpena

DOI: 10.1117/12.2233448 GOOGLE SCHOLAR

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