The on-board calibration system of the X-ray Imaging Polarimetry Explorer (XIPE)

  1. Zane, S.
  2. Winter, B.
  3. Theobalds, C.
  4. Theodorou, T.
  5. Pinchera, M.
  6. Muleri, F.
  7. Spada, F.
  8. Sgro, C.
  9. Zanetti, D.
  10. Feng, H.
  11. Del Monte, E.
  12. Rubini, A.
  13. Soffitta, P.
  14. Bellazzini, R.
  15. Bozzo, E.
  16. Burwitz, V.
  17. Castro Tirado, A.J.
  18. Costa, E.
  19. Gburek, S.
  20. Goosmann, R.
  21. Karas, V.
  22. Matt, G.
  23. Nandra, K.
  24. Pearce, M.
  25. Poutanen, J.
  26. Reglero, V.
  27. Sabau, M.D.
  28. Santangelo, A.
  29. Tagliaferri, G.
  30. Tenzer, C.
  31. Vink, J.
  32. Weisskopf, M.
  33. Mostrar todos los/as autores/as +
Actas:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ISSN: 1996-756X,  0277-786X

ISBN: 9781510601895

Año de publicación: 2016

Volumen: 9905

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1117/12.2233448 GOOGLE SCHOLAR

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Fuente de los datos: Scopus