The on-board calibration system of the X-ray Imaging Polarimetry Explorer (XIPE)

  1. Zane, S.
  2. Winter, B.
  3. Theobalds, C.
  4. Theodorou, T.
  5. Pinchera, M.
  6. Muleri, F.
  7. Spada, F.
  8. Sgro, C.
  9. Zanetti, D.
  10. Feng, H.
  11. Del Monte, E.
  12. Rubini, A.
  13. Soffitta, P.
  14. Bellazzini, R.
  15. Bozzo, E.
  16. Burwitz, V.
  17. Castro Tirado, A.J.
  18. Costa, E.
  19. Gburek, S.
  20. Goosmann, R.
  21. Karas, V.
  22. Matt, G.
  23. Nandra, K.
  24. Pearce, M.
  25. Poutanen, J.
  26. Reglero, V.
  27. Sabau, M.D.
  28. Santangelo, A.
  29. Tagliaferri, G.
  30. Tenzer, C.
  31. Vink, J.
  32. Weisskopf, M.
  33. Mostra tots els autors/es +
Actes:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ISSN: 1996-756X 0277-786X

ISBN: 9781510601895

Any de publicació: 2016

Volum: 9905

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1117/12.2233448 GOOGLE SCHOLAR

Objectius de Desenvolupament Sostenible