The on-board calibration system of the X-ray Imaging Polarimetry Explorer (XIPE)

  1. Zane, S.
  2. Winter, B.
  3. Theobalds, C.
  4. Theodorou, T.
  5. Pinchera, M.
  6. Muleri, F.
  7. Spada, F.
  8. Sgro, C.
  9. Zanetti, D.
  10. Feng, H.
  11. Del Monte, E.
  12. Rubini, A.
  13. Soffitta, P.
  14. Bellazzini, R.
  15. Bozzo, E.
  16. Burwitz, V.
  17. Castro Tirado, A.J.
  18. Costa, E.
  19. Gburek, S.
  20. Goosmann, R.
  21. Karas, V.
  22. Matt, G.
  23. Nandra, K.
  24. Pearce, M.
  25. Poutanen, J.
  26. Reglero, V.
  27. Sabau, M.D.
  28. Santangelo, A.
  29. Tagliaferri, G.
  30. Tenzer, C.
  31. Vink, J.
  32. Weisskopf, M.
  33. Alle Autoren anzeigen +
Konferenzberichte:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ISSN: 1996-756X 0277-786X

ISBN: 9781510601895

Datum der Publikation: 2016

Ausgabe: 9905

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1117/12.2233448 GOOGLE SCHOLAR

Ziele für nachhaltige Entwicklung