Atomic Force Microscopy beyond Topography: Chemical Sensing of 2D Material Surfaces through Adhesion Measurements

  1. Brotons-Alcázar, I.
  2. Terreblanche, J.S.
  3. Giménez-Santamarina, S.
  4. Gutiérrez-Finol, G.M.
  5. Ryder, K.S.
  6. Forment-Aliaga, A.
  7. Coronado, E.
Revista:
ACS Applied Materials and Interfaces

ISSN: 1944-8252,  1944-8244

Ano de publicación: 2024

Volume: 16

Número: 15

Páxinas: 19711-19719

Tipo: Artigo

DOI: 10.1021/ACSAMI.3C19254 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso aberto editor
Fonte de datos: Scopus