Atomic Force Microscopy beyond Topography: Chemical Sensing of 2D Material Surfaces through Adhesion Measurements

  1. Brotons-Alcázar, I.
  2. Terreblanche, J.S.
  3. Giménez-Santamarina, S.
  4. Gutiérrez-Finol, G.M.
  5. Ryder, K.S.
  6. Forment-Aliaga, A.
  7. Coronado, E.
Revista:
ACS Applied Materials and Interfaces

ISSN: 1944-8252,  1944-8244

Any de publicació: 2024

Volum: 16

Número: 15

Pàgines: 19711-19719

Tipus: Article

DOI: 10.1021/ACSAMI.3C19254 GOOGLE SCHOLAR lock_openAccés obert editor

Objectius de Desenvolupament Sostenible

Font de les dades: Scopus