Dielectric and structural properties of PST films deposited by RF ion sputtering on LSCO/Si substrates

  1. Martinez, E.
  2. Fundora, A.
  3. Blanco, O.
  4. Siqueiros, J.M.
Actas:
Ferroelectrics

ISSN: 0015-0193,  1563-5112

Año de publicación: 2003

Volumen: 293

Páginas: 153-159

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1080/00150190390238351 GOOGLE SCHOLAR
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