Mirror effect in atomic force microscopy profiles enables tip reconstruction
- Marques-Moros, F.
- Forment-Aliaga, A.
- Pinilla-Cienfuegos, E.
- Canet-Ferrer, J.
Revista:
Scientific Reports
ISSN: 2045-2322
Ano de publicación: 2020
Volume: 10
Número: 1
Tipo: Artigo