Mirror effect in atomic force microscopy profiles enables tip reconstruction

  1. Marques-Moros, F.
  2. Forment-Aliaga, A.
  3. Pinilla-Cienfuegos, E.
  4. Canet-Ferrer, J.
Revista:
Scientific Reports

ISSN: 2045-2322

Ano de publicación: 2020

Volume: 10

Número: 1

Tipo: Artigo

DOI: 10.1038/S41598-020-75785-0 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso aberto editor

Obxectivos de Desenvolvemento Sustentable