Mirror effect in atomic force microscopy profiles enables tip reconstruction

  1. Marques-Moros, F.
  2. Forment-Aliaga, A.
  3. Pinilla-Cienfuegos, E.
  4. Canet-Ferrer, J.
Zeitschrift:
Scientific Reports

ISSN: 2045-2322

Datum der Publikation: 2020

Ausgabe: 10

Nummer: 1

Art: Artikel

DOI: 10.1038/S41598-020-75785-0 GOOGLE SCHOLAR lock_openOpen Access editor

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