Evidence of dynamic-R on degradation on low-dose 60Co gamma radiation AlGaN/GaN HEMTs

  1. Martínez, P.J.
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  5. Ejea, J.B.
Revista:
Semiconductor Science and Technology

ISSN: 1361-6641,  0268-1242

Año de publicación: 2018

Volumen: 33

Número: 11

Tipo: Artículo

DOI: 10.1088/1361-6641/AAE616 GOOGLE SCHOLAR
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