Evidence of dynamic-R on degradation on low-dose 60Co gamma radiation AlGaN/GaN HEMTs

  1. Martínez, P.J.
  2. Maset, E.
  3. Gilabert, D.
  4. Sanchis-Kilders, E.
  5. Ejea, J.B.
Revista:
Semiconductor Science and Technology

ISSN: 1361-6641,  0268-1242

Any de publicació: 2018

Volum: 33

Número: 11

Tipus: Article

DOI: 10.1088/1361-6641/AAE616 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus