Study of the Secondary Electron Yield in Dielectrics Using Equivalent Circuital Models

  1. Banon-Caballero, D.
  2. Socuellamos, J.M.
  3. Mata, R.
  4. Mercade, L.
  5. Gimeno, B.
  6. Boria, V.E.
  7. Raboso, D.
  8. Semenov, V.E.
  9. Rakova, E.I.
  10. Sanchez-Royo, J.F.
  11. Segura, A.
Revista:
IEEE Transactions on Plasma Science

ISSN: 0093-3813

Ano de publicación: 2018

Volume: 46

Número: 4

Páxinas: 859-867

Tipo: Revisión

DOI: 10.1109/TPS.2018.2809602 GOOGLE SCHOLAR

Obxectivos de Desenvolvemento Sustentable