Study of the Secondary Electron Yield in Dielectrics Using Equivalent Circuital Models
- Banon-Caballero, D.
- Socuellamos, J.M.
- Mata, R.
- Mercade, L.
- Gimeno, B.
- Boria, V.E.
- Raboso, D.
- Semenov, V.E.
- Rakova, E.I.
- Sanchez-Royo, J.F.
- Segura, A.
ISSN: 0093-3813
Any de publicació: 2018
Volum: 46
Número: 4
Pàgines: 859-867
Tipus: Revisió