Probing the Local Electrical Properties of Al(In,Ga)N by Kelvin Probe Force Microscopy

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Revista:
Physica Status Solidi (B) Basic Research

ISSN: 1521-3951,  0370-1972

Año de publicación: 2018

Volumen: 255

Número: 5

Tipo: Artículo

DOI: 10.1002/PSSB.201700427 GOOGLE SCHOLAR
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