Probing the Local Electrical Properties of Al(In,Ga)N by Kelvin Probe Force Microscopy

  1. Minj, A.
  2. Ammar, H.B.
  3. Cros, A.
  4. Garro, N.
  5. Gamarra, P.
  6. Delage, S.L.
  7. Ruterana, P.
Revista:
Physica Status Solidi (B) Basic Research

ISSN: 1521-3951,  0370-1972

Ano de publicación: 2018

Volume: 255

Número: 5

Tipo: Artigo

DOI: 10.1002/PSSB.201700427 GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus