Probing the Local Electrical Properties of Al(In,Ga)N by Kelvin Probe Force Microscopy

  1. Minj, A.
  2. Ammar, H.B.
  3. Cros, A.
  4. Garro, N.
  5. Gamarra, P.
  6. Delage, S.L.
  7. Ruterana, P.
Revista:
Physica Status Solidi (B) Basic Research

ISSN: 1521-3951,  0370-1972

Any de publicació: 2018

Volum: 255

Número: 5

Tipus: Article

DOI: 10.1002/PSSB.201700427 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus