Application of the SKYRAD improved Langley plot method for the in situ calibration of CIMEL Sun-sky photometers

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Revista:
Applied Optics

ISSN: 1539-4522,  1559-128X

Año de publicación: 2007

Volumen: 46

Número: 14

Páginas: 2688-2702

Tipo: Artículo

DOI: 10.1364/AO.46.002688 GOOGLE SCHOLAR

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