Application of the SKYRAD improved Langley plot method for the in situ calibration of CIMEL Sun-sky photometers

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  2. Estellés, V.
  3. Tomasi, C.
  4. Nakajima, T.
  5. Malvestuto, V.
  6. Martínez-Lozano, J.A.
Zeitschrift:
Applied Optics

ISSN: 1539-4522,  1559-128X

Datum der Publikation: 2007

Ausgabe: 46

Nummer: 14

Seiten: 2688-2702

Art: Artikel

DOI: 10.1364/AO.46.002688 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus