Refractive index of GaTe under high pressure

  1. Pellicer-Porres, J.
  2. Segura, A.
  3. Muñoz, V.
  4. Chervin, J.C.
Aldizkaria:
Semiconductor Science and Technology

ISSN: 0268-1242

Argitalpen urtea: 2000

Alea: 15

Zenbakia: 9

Orrialdeak: 902-907

Mota: Artikulua

DOI: 10.1088/0268-1242/15/9/305 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus