Refractive index of GaTe under high pressure

  1. Pellicer-Porres, J.
  2. Segura, A.
  3. Muñoz, V.
  4. Chervin, J.C.
Revista:
Semiconductor Science and Technology

ISSN: 0268-1242

Any de publicació: 2000

Volum: 15

Número: 9

Pàgines: 902-907

Tipus: Article

DOI: 10.1088/0268-1242/15/9/305 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus