A Test Circuit for GaN HEMTs Dynamic Characterization in Power Electronics Applications

  1. Martinez, P.J.
  2. Miaja, P.F.
  3. Maset, E.
  4. Rodriguez, J.
Revista:
IEEE Journal of Emerging and Selected Topics in Power Electronics

ISSN: 2168-6785,  2168-6777

Año de publicación: 2019

Volumen: 7

Número: 3

Páginas: 1456-1464

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/JESTPE.2019.2912130 GOOGLE SCHOLAR
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