A Test Circuit for GaN HEMTs Dynamic Characterization in Power Electronics Applications
- Martinez, P.J.
- Miaja, P.F.
- Maset, E.
- Rodriguez, J.
ISSN: 2168-6785, 2168-6777
Any de publicació: 2019
Volum: 7
Número: 3
Pàgines: 1456-1464
Tipus: Article
ISSN: 2168-6785, 2168-6777
Any de publicació: 2019
Volum: 7
Número: 3
Pàgines: 1456-1464
Tipus: Article