A Test Circuit for GaN HEMTs Dynamic Characterization in Power Electronics Applications

  1. Martinez, P.J.
  2. Miaja, P.F.
  3. Maset, E.
  4. Rodriguez, J.
Zeitschrift:
IEEE Journal of Emerging and Selected Topics in Power Electronics

ISSN: 2168-6785,  2168-6777

Datum der Publikation: 2019

Ausgabe: 7

Nummer: 3

Seiten: 1456-1464

Art: Artikel

DOI: 10.1109/JESTPE.2019.2912130 GOOGLE SCHOLAR
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