Cepstrum-based interferometric microscopy (CIM) for quantitative phase imaging

  1. Rubio-Oliver, R.
  2. García, J.
  3. Zalevsky, Z.
  4. Picazo-Bueno, J.Á.
  5. Micó, V.
Revista:
Optics and Laser Technology

ISSN: 0030-3992

Año de publicación: 2024

Volumen: 174

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.OPTLASTEC.2024.110626 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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