Coherent microscopy for 3-D movement monitoring and super-resolved imaging

  1. Beiderman, Y.
  2. Amsel, A.
  3. Tzadka, Y.
  4. Fixler, D.
  5. Teicher, M.
  6. Micó, V.
  7. García, J.
  8. Javidi, B.
  9. DaneshPanah, M.
  10. Moon, I.
  11. Zalevsky, Z.
Col·lecció de llibres:
Springer Series in Surface Sciences

ISSN: 0931-5195

ISBN: 9783642158124

Any de publicació: 2011

Volum: 46

Número: 1

Pàgines: 269-293

Tipus: Article

DOI: 10.1007/978-3-642-15813-1_10 GOOGLE SCHOLAR