3D deconvolution in Fourier integral microscopy

  1. Stefanoiu, A.
  2. Scrofani, G.
  3. Saavedra, G.
  4. Martínez-Corral, M.
  5. Lasser, T.
Actas:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ISSN: 1996-756X 0277-786X

ISBN: 9781510635692

Año de publicación: 2020

Volumen: 11396

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1117/12.2558516 GOOGLE SCHOLAR