3D deconvolution in Fourier integral microscopy

  1. Stefanoiu, A.
  2. Scrofani, G.
  3. Saavedra, G.
  4. Martínez-Corral, M.
  5. Lasser, T.
Konferenzberichte:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ISSN: 1996-756X 0277-786X

ISBN: 9781510635692

Datum der Publikation: 2020

Ausgabe: 11396

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1117/12.2558516 GOOGLE SCHOLAR