Single-shot two-frame interference microscopy for robust quantitative phase imaging of fixed and dynamic samples

  1. Trusiak, M.
  2. Picazo-Bueno, J.A.
  3. Rogalski, M.
  4. Cywińska, M.
  5. Zdańkowski, P.
  6. Micó, V.
Actas:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ISSN: 1996-756X,  0277-786X

ISBN: 9781510644069

Año de publicación: 2021

Volumen: 11786

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1117/12.2595852 GOOGLE SCHOLAR
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