Single-shot two-frame interference microscopy for robust quantitative phase imaging of fixed and dynamic samples

  1. Trusiak, M.
  2. Picazo-Bueno, J.A.
  3. Rogalski, M.
  4. Cywińska, M.
  5. Zdańkowski, P.
  6. Micó, V.
Konferenzberichte:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ISSN: 1996-756X,  0277-786X

ISBN: 9781510644069

Datum der Publikation: 2021

Ausgabe: 11786

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1117/12.2595852 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus