Motional Resistance Evaluation of the Quartz Crystal Microbalance to Study the Formation of a Passive Layer in the Interfacial Region of a Copper|Diluted Sulfuric Solution

  1. Cuenca, A.
  2. Agrisuelas, J.
  3. Catalán, R.
  4. García-Jareño, J.J.
  5. Vicente, F.
Revista:
Langmuir

ISSN: 1520-5827,  0743-7463

Año de publicación: 2015

Volumen: 31

Número: 35

Páginas: 9655-9664

Tipo: Artículo

DOI: 10.1021/ACS.LANGMUIR.5B02233 GOOGLE SCHOLAR
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