New method for the determination of the defect profile in thin layers grown over a substrate

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Revista:
Physica Status Solidi (C) Current Topics in Solid State Physics

ISSN: 1862-6351

Año de publicación: 2007

Volumen: 4

Número: 10

Páginas: 3973-3976

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1002/PSSC.200675733 GOOGLE SCHOLAR
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