Defects analysis of in situ grown BiSrCaCuO thin films
- Ranno, L.
- Defourneau, R.M.
- Enard, J.P.
- Perrière, J.
- Martinez-Garcia, D.
ISSN: 0925-8388
Argitalpen urtea: 1993
Alea: 195
Zenbakia: C
Orrialdeak: 251-254
Mota: Artikulua
ISSN: 0925-8388
Argitalpen urtea: 1993
Alea: 195
Zenbakia: C
Orrialdeak: 251-254
Mota: Artikulua