Microscopía de barrido con muestreo espacial del plano del detector

  1. Sánchez-Ortiga, Emilio
  2. Saavedra, Genaro
  3. Sheppard, Colin
  4. Doblas, Ana
  5. Martínez Corral, Manuel
  6. Andrés Bou, Pedro
Revista:
Óptica pura y aplicada

ISSN: 2171-8814

Año de publicación: 2013

Título del ejemplar: Special: 10th Spanish National Meeting on Optics

Volumen: 46

Número: 2

Páginas: 137-146

Tipo: Artículo

DOI: 10.7149/OPA.46.2.137 DIALNET GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor

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Resumen

Se presenta la implementación de un microscopio confocal de barrido en el cual se emplea como detector una cámara CCD. Este tipo de detección posee numerosas ventajas con respecto a la detección típica en la microscopia confocal. Se demuestra la aplicabilidad de nuestro sistema que, al realizar un muestreo espacial de la distribución de intensidades en el plano del detector, permite llevar a cabo técnicas de aumento de la resolución tridimensional del sistema.

Fuente de los datos: Dialnet