MICROSCOPIO PARA MEDIDAS CUANTITATIVAS DEL FRENTE DE ONDA, MÓDULO Y KIT PARA MICROSCOPIO, MÉTODO Y PROGRAMA DE ORDENADOR PARA LA RECONSTRUCCIÓN COMPUTACIONAL DEL FRENTE DE ONDA

Resumen

La presente invención concierne a un microscopio para medidas cuantitativas del frente de onda, que comprende:

- medios para iluminar una muestra (T);

- un objetivo (2);

- una disposición bidimensional ordenada de lentes (3) con un espaciado p_{mi} superior a 500 μm y una apertura relativa inferior a 10;

- un sensor de imagen (4) situado en un espacio de captura (Ec) para recibir la luz dispersada por la muestra (T), y adquirir información espacial e información angular del frente de onda objeto asociado a la misma; y

- una entidad computacional para realizar una reconstrucción computacional del frente de onda objeto a partir de las informaciones espacial y angular.

Otros aspectos dela invención conciernen a un método, un programa de ordenador y un producto que lo incluye, adaptados para realizar las funciones de la entidad computacional del microscopio, así como a un módulo y un kit para microscopio.