JUAN BAUTISTA
EJEA MARTI
TITULAR DE UNIVERSIDAD
Universitat Autònoma de Barcelona
Barcelona, EspañaUniversitat Autònoma de Barcelona-ko ikertzaileekin lankidetzan egindako argitalpenak (1)
2009
-
Accelerated life test for siC schottky blocking diodes in high-temperature environment
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability