Front-End Electronics of the Hades RPC Wall: Full Sector Test

  1. Gil, A.
  2. Belver, D.
  3. Cabanelas, P.
  4. Castro, E.
  5. Diaz, J.
  6. Garzon, J. A.
  7. Gonzalez-Diaz, D.
  8. Koenig, W.
  9. Traxler, M.
Colección de libros:
2008 IEEE NUCLEAR SCIENCE SYMPOSIUM AND MEDICAL IMAGING CONFERENCE (2008 NSS/MIC), VOLS 1-9

ISSN: 1082-3654

ISBN: 978-1-4244-2714-7

Año de publicación: 2009

Páginas: 836-837

Congreso: IEEE Nuclear Science Symposium/Medical Imaging Conference

Tipo: Aportación congreso

GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: WoS