3D integral microscopy based in far-field detection

  1. Scrofani, G.
  2. Sola-Pikabea, J.
  3. Llavador, A.
  4. Sánchez-Ortiga, E.
  5. Barreiro, J.C.
  6. Garcia-Sucerquia, J.
  7. Incardona, N.
  8. Martinez-Corral, M.
Konferenzberichte:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ISSN: 1996-756X,  0277-786X

ISBN: 9781510618435

Datum der Publikation: 2018

Ausgabe: 10666

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1117/12.2304330 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus